采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為**設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量（已獲取**） 實現高速測量 不受偏差影響
產品信息
特點
● 采用線掃描方式檢測整面薄膜
● 硬件&軟件均為**設計
● 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援
● 實現高精度測量（已獲取**）
● 實現高速測量
● 不受偏差影響
● 可對應寬幅樣品（TD方向*大可測量10m） 規格