產品信息 特征 通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 從配光上評估紫外光的*大發光強度、光束開度、光束光通量 涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 支持從 LED 芯片到模塊和應用
產品信息
特征
● 通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量
● 從配光上評估紫外光的*大發光強度、光束開度、光束光通量
● 涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍
● 支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品
● 用軟件批量控制電源和測量儀器
評價項目
紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布
*大光度、光束開度、光束光通量
輻射通量、輻射強度、輻照度
總光通量
光譜數據
根據配光測量系統的測量項目
總光通量、色度坐標xy、uv、u'v'相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數Ra、R1至R15
峰值波長、半值范圍
規格
設備配置
GP-510U
桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。 受光部一側為1軸，樣品側為1軸的驅動系統。 由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現性和位置調整很容易。 適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。
GP-500 / GP-1100
桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統。 受光部分與樣品部分高度相同，樣品側采用2軸驅動系統。 它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。
GP-2000